Pristupačnost
Katalog opreme Fakulteta kemijskog inženjerstva i tehnologije
XRD Shimadzu 6000
Aparat: Rendgenski difraktometar
Proizvođač: Shimadzu
Kratki opis metode: Rendgenska difrakcija praha (XRD) je metoda pri kojoj se zraka karakterističnog rendgenskog zračenja usmjerava na ravnu površinu fino usitnjenog materijala smještenog u nosač uzorka. Intenzitet rendgenskog zračenja difraktiranog s uzorka mjeri se u ovisnosti o kutu difrakcije. Dobiveni podaci pružaju informacije o strukturi materijala od kojih se uzorak sastoji.
Namjena: Rendgenska difrakcija praha je jedna od najkorisnijih metoda u istraživanju strukture tvari. Najjednostavnija primjena rendgenske difrakcije je identifikacija kristalnih faza (kvalitativna analiza). Kvantitativnu analizu, odnosno određivanje relativnih udjela različitih faza u uzorku, također je moguće provesti iako postupak nije jednostavan i zahtijeva dosta vremena i poznavanja problematike. Metoda se može primijeniti i za određivanje parametara elementarne ćelije kristala, određivanje veličine kristalita, stupnja kristaliničnosti uzorka i detekciju naprezanja u strukturi.
Tehničke značajke: Osnovne komponente sustava su visokonaponski generator, široko-fokusna rendgenska cijev s CuKa zračenjem i Ni filtrom, okomiti goniometar visoke preciznosti, grafitni monokromator, scintilacijski detektor te računalo sa sistemskim softverom.
Tip i priprava uzorka: kruti uzorak, kristalni, anorganski/organski, prirodni/sintetski. Uzorke prethodno treba usitniti u fini prašak.
SEM Tescan Vega 3
Aparat: Pretražni elektronski mikroskop
Proizvođač i model: Tescan Vega III Easyprobe
Kratki opis metode: Pretražna elektronska mikroskopija (SEM) je metoda kojom se dobiva slika uzorka (povećana do 100 000 puta) prelaskom fokusiranog snopa elektrona po površini vodljivog uzorka. Kontrast slike ovisi prvenstveno o topografiji uzorka, a ovisno o detektoru (detektor povratno raspršenih elektrona, BSE) i o atomskom broju atoma u uzorku. Instrument je opremljen i detektorom za energijski razlučujuću rendgensku spektroskopiju (EDS) koji omogućuje elementnu analizu uzorka.
Namjena: Pretražna elektronska mikroskopija omogućava promatranje suhih uzoraka pod visokim povećanjem i razlučivanje detalja koje je nemoguće postići konvencionalnom optičkom mikroskopijom, uz razmjerno jednostavnu pripravu uzorka. Njome se može odrediti morfologija uzorka, veličina čestica i pora, a preko rendgenske spektroskopije (EDS) i elementni sastav promatranog uzorka.
Tehničke značajke: Tescan Vega III Easyprobe, s volframovom žarnom niti, rasponom radnog napona ubrzanja 5 – 30 kV, rasponom povećanja 100 – 100 000 puta, maksimalnom nazivnom razlučivošću 3 nm, detektorom sekundarnih (SE) i povratno raspršenih elektrona (BSE), te detektorom za energijski razlučujuću rendgensku spektroskopiju (EDS).
Tip i priprava uzorka: Suhi uzorci svih vrsta, praškasti ili veličine od ispod 1 cm do maksimalno 10 cm. Nevodljivi uzorci prethodno se trebaju napariti vodljivim slojem (naparivač je dostupan uz instrument). Radi se u visokom naponu, pa uzorci ne smiju otparavati pod vakuumom.